本文標題："不連續(xù)晶體中的構造晶格光學測量顯微鏡的應用"
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不連續(xù)晶體中的構造晶格光學測量顯微鏡的應用
結晶學域中的不連續(xù)晶體中的構造不連續(xù)面和不線（即
晶格面和晶格方向）不能直接看到，因為它們出現(xiàn)在原子的
規(guī)模上。
不過，它們的方位可以根據(jù)晶體光性與結晶特征之間的
一些已知關系用光學方法測定，或是通過觀察比原子規(guī)模大
得多的有關物理性不連續(xù)體（解理、雙晶紋、裂理等等）
來直接地確定。晶體內部不連續(xù)面的完整概念是通過X
光分析建立的
因為一個晶體除了在小規(guī)模上外總是一個均勻域，所
以整個晶體的某種特定構造不連續(xù)面或不連續(xù)線的方位用一
個觀測結果就能全部代表。
這種不連續(xù)體在此稱為慣穿不連續(xù)體，因為它們重復出
現(xiàn)的間距與整個晶體相比是如此之小，以致可以認為它們均
勻地遍及整個晶體，出現(xiàn)在每一點上。
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